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徠卡課堂 |如何運用一臺偏振光顯微鏡對經(jīng)過或未經(jīng)過制備的樣品進行分析

徠卡課堂 |如何運用一臺偏振光顯微鏡對經(jīng)過或未經(jīng)過制備的樣品進行分析


本文闡述了地質(zhì)科學家如何運用一臺偏振光顯微鏡對經(jīng)過或未經(jīng)過制備的樣品進行分析的:這就是Leica DVM6 M 數(shù)碼顯微鏡。選用適當?shù)呐浼擄@微鏡即可化身為半定量型偏振顯微鏡。

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產(chǎn)品詳情


  一百年前,偏振光顯微鏡就已經(jīng)應用于傳統(tǒng)的地球科學研究之中了。從那時起,隨著技術(shù)的不斷進步,這類顯微鏡在用戶友好性、人體工程學以及光學性能方面逐漸改善。時至今日,仍有一方面在原地踏步:傳統(tǒng)的偏振光(復式)顯微鏡僅適用于經(jīng)過制備的樣品,因為這類顯微鏡提供的工作距離不足以滿足整個樣品的檢測。


   這就意味著必須切割和拋光較厚、較大的地質(zhì)樣品,以適應復式顯微鏡的有限工作距離。這些樣品制備對精確度的要求極高,而在拋光片的厚度、平整度和拋光效果方面,對精確度的要求則更甚。運用帶透射、偏振光 [1,2] 的復式顯微鏡進行檢測時,標準厚度應為 30 微米。


換言之,科學家檢測未經(jīng)制備的樣品時,需要切換成工作距離較大的體視顯微鏡。


介紹

一臺適用于經(jīng)過或未經(jīng)過制備樣品檢測的顯微鏡

本文闡述了地質(zhì)科學家如何運用一臺偏振光顯微鏡對經(jīng)過或未經(jīng)過制備的樣品進行分析的:這就是Leica DVM6 M 數(shù)碼顯微鏡。選用適當?shù)呐浼擄@微鏡即可化身為半定量型偏振顯微鏡。


地質(zhì)樣品的多樣性需要一系列合格的顯微鏡解決方案:



適用于所有地質(zhì)檢測項目


運用適配器將Leica DVM 6 M 安裝在手動或電動調(diào)焦柱上,即可獲得額外工作距離,確保地質(zhì)學家能夠?qū)伖饣蛭磼伖獾臉悠愤M行檢測觀察。具備高數(shù)值孔徑的透射光座,提供了適用于多樣化偏振光應用領域的數(shù)碼解決方案。




為透射光座配備一個偏振載物臺,上面帶一個旋入/旋出偏光鏡。按照上述方法設置Leica DVM6 M,確保顯微鏡適用于任何地質(zhì)科學應用領域,并保證用戶能夠分別觀察平行和交叉偏振光下的透明樣品。樣品是否配有蓋玻片或樣品是否系未切削的透明礦物質(zhì)(例如,鉆石或指示礦物),這些并不重要。


Leica DVM6 M 能夠提高地質(zhì)科學家的工作效率,歸因于以下優(yōu)勢:


? 運用一臺儀器即可對經(jīng)過或未經(jīng)過制備的樣品進行靈活處理;

? 全面集成環(huán)形光,外加同軸和其他照明類型,確保研究和分析樣品的選項超過復式顯微鏡;

? 高效、快速實現(xiàn)整個范圍內(nèi)的放大倍率切換;

? 軟件界面直觀,適用于顯微鏡操作和分析;

? 擁有對重要參數(shù)進行自動追蹤和存儲(編碼)的功能。


有關(guān)Leica DVM6 數(shù)碼顯微鏡的更多詳情,請參見Leica DVM6 產(chǎn)品頁面 [3]。

分析經(jīng)過制備的樣品


下面選取玄武巖薄片為例。采用不同方向的偏振光照明,可以展示玄武巖的結(jié)構(gòu)和組成。


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圖 1:運用平行偏振光獲取的玄武巖薄片圖像


 

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圖 2:運用交叉偏振光獲取的相同樣品圖像


如果單幅圖像顯示樣品的感興趣區(qū)域比顯微鏡的視場大,則研究人員可以運用顯微鏡軟件中的 Live Image Builder(實時圖像生成器)功能。在載物臺掃描階段,該項功能可以通過照相機記錄的合成圖像來創(chuàng)建單幅圖像,保證用戶能夠更大范圍地查看樣品。


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圖 3:上圖系玄武巖薄片的概覽大圖


針對反光,可以采用內(nèi)置同軸照明方式觀察拋光樣品,無需附加部件。在反射光模式下,調(diào)節(jié)內(nèi)置 ? λ片(波板),即可完成偏振光交叉。


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圖 4:運用平行偏振反射光觀察礦石礦物


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圖 5:運用交叉偏振反射光觀察同一樣品


Leica DVM6 M 同軸照明模式配備傾斜照明滑塊,提供晶界、硬度差和劃痕的三維圖像。只需簡單地四處移動照明滑塊,即可從該角度觀察樣品。無需其他操作。


右圖顯示僅配備集成環(huán)形光的Leica DVM6 M 才適用于該領域。雖然傳統(tǒng)偏振光顯微鏡不帶暗場,但配備環(huán)形光的Leica DVM6 M 卻為拋光樣品提供了額外的暗場角度。


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圖 6:運用平行偏振傾斜反射光照明獲取的同一樣品細節(jié)圖像,用于查看硬度差和劃痕


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圖 7:運用環(huán)形光照明獲取的同一樣品細節(jié)圖像



分析未經(jīng)過制備的樣品


除這些觀察地球科學樣品的“經(jīng)典”方法之外,用戶還可以運用Leica DVM6 M 觀察未經(jīng)過制備樣品的三維圖像,例如,顯微載片、巖心部分、散礦物質(zhì)、微體化石等。由于體視顯微鏡的內(nèi)置部分環(huán)形光設置或鵝頸管聚光燈,因此,可以運用與體視顯微鏡相似的方式,觀察未經(jīng)過制備的樣品。


對于厚度超過顯微鏡景深的樣品,可以采用多聚焦功能輕松對其進行觀察。隨后,可以重建樣品的三維形貌圖。另外,如果僅需二維圖像,則可以啟用 Live Image Builder 功能。


顯微載片樣品通常需要擴展景深,令所有細節(jié)更加明晰。Leica DVM6 M 軟件具備 Live Image Builder Z(配備手動調(diào)焦柱)和蒙太奇選項(自定義、EDOF、啟動),為其獲取多焦點圖像提供了一種非常簡單的方式 [3]。


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圖 8:運用環(huán)形光照明獲取的顯微載片樣品細節(jié)圖像


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圖 9:運用環(huán)形光照明獲取的顯微載片樣品多焦點圖像。


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圖 10:運用透射偏振光照明獲取的尚未打磨鉆石的多焦點圖像。


松面樣品、巖石樣品和巖心通常比顯微鏡提供的視場要大,而配備 Live Image Builder XY,則可以克服該限制,并將多幅圖像合成視場較大的單幅圖像。


leica DVM6 M 三個可用物鏡擁有廣泛的放大倍率(1x ~ 2,350x)和分辨率,保證用戶能夠快速實現(xiàn)較大樣品從宏觀到微觀圖像之間的切換。


由于所有圖像都是自動校準的,這些圖像都可以用于測量。在三維形貌重建中,可以測量表面特性和體積。


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圖 11:通過長度和表面測量,獲取黃金和重礦物的多焦點圖像。

 


結(jié)論本文展示了在地質(zhì)科學研究領域,使用一臺顯微鏡分析經(jīng)過或未經(jīng)過制備樣品的可能性。leica DVM6 M 數(shù)碼顯微鏡將宏觀與微觀合二為一,保證用戶既可分析二維也可分析三維樣品。由于視場和景深可以同時增加,因而可以輕松操作不同高度的樣品。Leica DVM6 M 通用照明方式為研究和分析樣品,提供了比復式顯微鏡更多的選項。